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耐電弧測(cè)試儀是一種用于測(cè)試電氣設(shè)備或材料的抗電弧能力的儀器。在電力系統(tǒng)中，由于故障或短路等原因會(huì)產(chǎn)生電弧現(xiàn)象，電弧會(huì)產(chǎn)生高溫、高壓和強(qiáng)磁場(chǎng)等危險(xiǎn)環(huán)境，嚴(yán)重威脅電氣設(shè)備和人身安全。因此，對(duì)于電氣設(shè)備和材料的耐電弧性能測(cè)試就顯得尤為重要。耐電弧測(cè)試儀主要由測(cè)試系統(tǒng)、控制系統(tǒng)和保護(hù)系統(tǒng)組成。測(cè)試系統(tǒng)通常由高壓源、電壓表、電流表、電容器、電感器等部件組成，控制系統(tǒng)由微處理器、開關(guān)等組成，保護(hù)系統(tǒng)則包括過流保護(hù)、溫度保護(hù)、過載保護(hù)等。測(cè)試儀可以進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試和非標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試。標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試應(yīng)...

試驗(yàn)箱是指能同時(shí)施加溫度、濕度應(yīng)力的試驗(yàn)箱。由于試驗(yàn)箱本身的復(fù)雜性，使得試驗(yàn)箱在運(yùn)行中出現(xiàn)了許多問題，而且出現(xiàn)了問題不能及時(shí)解決，大大延長(zhǎng)了試驗(yàn)周期，影響了產(chǎn)品的研制工作。而產(chǎn)生這些現(xiàn)象的原因是對(duì)綜合試驗(yàn)箱的工作原理不了解。因此，我們對(duì)試驗(yàn)箱的基本工作原理作了一些簡(jiǎn)要闡述，并介紹如何對(duì)綜合試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備的故障進(jìn)行分析和判斷。試驗(yàn)箱只要由制冷系統(tǒng)，加熱系統(tǒng)，控制系統(tǒng)，濕度系統(tǒng)，空氣循環(huán)系統(tǒng)，和傳感器系統(tǒng)等組成。制冷循環(huán)采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)出兩個(gè)等溫過程和兩個(gè)絕熱過程組成，其過...

高低溫電子萬能試驗(yàn)機(jī)主要測(cè)試金屬、非金屬成品、半成品在高溫(低溫)環(huán)境下的拉伸、壓縮、彎曲、折彎、剝離、剪切等力學(xué)性能，適用于測(cè)試金屬和非金屬材料的拉伸、壓縮、環(huán)剛度、平直度、彎曲、剪切、撕裂、剝離、刺穿等力學(xué)性能。還可進(jìn)行等速加載、等速變形、等速位移的自動(dòng)控制試驗(yàn)，具有低周加載循環(huán)、變形循環(huán)、位移循環(huán)功能。計(jì)算伸長(zhǎng)率、抗拉強(qiáng)度、彎曲模量、彈性模量、屈服強(qiáng)度、凈能量、返回能量、總能量等指標(biāo)。高低溫電子萬能試驗(yàn)機(jī)采用龍門結(jié)構(gòu)，鋁合金外殼設(shè)計(jì)，主機(jī)由進(jìn)口滾珠絲杠和精密導(dǎo)軌組成，主...

高低溫試驗(yàn)箱是目前環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備行業(yè)中熱門的試驗(yàn)設(shè)備之一，但是再好的設(shè)備如果使用不當(dāng)或缺少保養(yǎng)也會(huì)出現(xiàn)各種故障，今天我們就來看一下高低溫試驗(yàn)箱在使用中有可能會(huì)出現(xiàn)哪些故障以及解決方案吧。高低溫試驗(yàn)箱常見故障與解決方法：1、低溫降不到或無法降溫1.壓縮機(jī)損壞或未開啟，更換壓縮機(jī)及檢查控制壓縮機(jī)線路及控制元器件是否損壞2.制冷劑泄漏，用氮?dú)鈾z漏法找出漏點(diǎn)，焊接，抽真空，加入制冷劑，重新調(diào)試3.電磁閥動(dòng)作異常，更換電磁閥，檢查電磁閥控制線路4.毛細(xì)管堵塞，更換毛細(xì)管，更換干燥過濾器，...

冷熱沖擊試驗(yàn)箱與快速溫變?cè)囼?yàn)箱兩者的區(qū)別主要分為兩點(diǎn)，下面小編來給大家分析一下這兩點(diǎn)的區(qū)別：冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，設(shè)備可做冷熱沖擊，也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用?？梢詫?shí)現(xiàn)產(chǎn)品的試驗(yàn)溫度從高溫150度瞬間變?yōu)?40度或更低。兩箱式采用上下兩箱(上箱高溫區(qū)、下箱低溫區(qū))，中間為提藍(lán)，就是可以放置樣品的地方，提藍(lán)通過傳動(dòng)裝置上下切換，在高低溫兩箱中進(jìn)行快速轉(zhuǎn)換，從而實(shí)現(xiàn)溫度沖擊.三箱式(上箱高溫區(qū)、下箱低溫區(qū)、中間是樣品區(qū))，被測(cè)樣...